分光光度計(jì)日常分析工作中,經(jīng)常遇到的問(wèn)題是同一個(gè)樣品在不同儀器上得到的吸收測(cè)量值不相同,有時(shí),它們之間的差別往往超過(guò)允許公差范圍,增加了生產(chǎn)部門(mén)和檢驗(yàn)部門(mén)的矛盾。為此,要得到精確的測(cè)量結(jié)果,就必須充分了解儀器的主要參數(shù)對(duì)吸收測(cè)量的影響。影響測(cè)量結(jié)果的主要參數(shù)有波長(zhǎng)精度、雜散光、噪聲、基線(xiàn)平直度以及光譜帶寬，下面一一進(jìn)行介紹。

　　1、波長(zhǎng)準(zhǔn)確度

　　波長(zhǎng)準(zhǔn)確度在確保紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的準(zhǔn)確度中起著十分重要的作用。因?yàn)闇y(cè)試樣品物質(zhì)不同，那么它對(duì)不同波長(zhǎng)的光有著不同的摩爾吸光系數(shù)。由朗伯比爾定律可知，不同的摩爾吸光系數(shù)所對(duì)應(yīng)的吸光度會(huì)有差異，由此就會(huì)產(chǎn)生不一致的分析誤差。

　　2、雜散光

　　雜散光是準(zhǔn)確度分析誤差的一個(gè)重要來(lái)源，直接影響著樣品物質(zhì)在測(cè)試時(shí)所能配制的zui大濃度。有研究結(jié)果表明，越高濃度的測(cè)試樣品雜散光的影響越大，如果是在一個(gè)比較大的濃度下，雜散光增強(qiáng)，吸光度和濃度成比例的范圍縮小。

　　3、噪聲

　　影響紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)光度準(zhǔn)確度的噪聲包括光噪聲和電噪聲。其中光噪聲是由光源產(chǎn)生的，具體來(lái)說(shuō)就是光源的發(fā)光強(qiáng)度分布因子導(dǎo)致光噪聲的出現(xiàn)。電噪聲的來(lái)源是光電倍增管、各種電源以及放大器等。作為紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)光度準(zhǔn)確度zui關(guān)鍵的技術(shù)參數(shù)之一，噪聲是分析測(cè)試中主要誤差源頭，它是影響紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)光度準(zhǔn)確度檢測(cè)下限的因素。

　　4、基線(xiàn)平直度

　　基線(xiàn)平直度是全波段內(nèi)每個(gè)波長(zhǎng)上的噪聲體現(xiàn)，基線(xiàn)平直度直接影響紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)光度準(zhǔn)確度的靈敏度以及影響檢測(cè)下限或使用范圍，是紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)中一個(gè)十分重要的技術(shù)參數(shù)。購(gòu)買(mǎi)者和使用者在選購(gòu)和使用紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的時(shí)候，對(duì)基線(xiàn)平直度會(huì)有這特別的重視程度，會(huì)作為選購(gòu)和使用的重要技術(shù)指標(biāo)。但是相對(duì)于其他影響紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)光度準(zhǔn)確度的因素來(lái)說(shuō)，基線(xiàn)平直度是受到目前國(guó)內(nèi)外研究工作者重視程度遠(yuǎn)遠(yuǎn)不夠的技術(shù)指標(biāo)。

　　5、光譜帶寬

　　光譜帶寬是影響紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)光度準(zhǔn)確度的一個(gè)十分重要的因素。當(dāng)光譜帶寬不同時(shí)，測(cè)試得到的數(shù)據(jù)就會(huì)不同，因而不同光譜帶寬下的分析誤差也大相徑庭。

　　分光光度計(jì)誤差計(jì)算方式

　　分光光度計(jì)的分析總誤差為雜散光引起的誤差和噪聲引起的誤差之和。紫外分光光度計(jì)分析測(cè)試的總誤差除了包括雜散光和噪聲（含基線(xiàn)平直度）引起的誤差，還有光譜帶寬、波長(zhǎng)準(zhǔn)確度、試樣配制和操作等引起的誤差。因此，總誤差應(yīng)是雜散光、噪聲、基線(xiàn)平直度、光譜帶寬、波長(zhǎng)準(zhǔn)確度、試樣配制和操作等多種誤差的總和。

　　以上誤差計(jì)算方法簡(jiǎn)單、直觀，儀器設(shè)計(jì)者或分析工作者只要根據(jù)自己估算或?qū)嶋H測(cè)試的數(shù)據(jù)（或假設(shè)的數(shù)據(jù)），結(jié)合紫外分光光度計(jì)的性能技術(shù)指標(biāo)（雜散光、噪聲、基線(xiàn)平直度、芳寬等），并考慮分析測(cè)試者在樣品配制、處理、儀器操作等方面的誤差，就能估算出儀器對(duì)某項(xiàng)分析工作的分析誤差，是一種很實(shí)用的誤差計(jì)算方法。